在无损检测的基础理论研究和仪器设备开发方面，中国与世界先进国家之间仍有较大的差距，特别是在红外、声发射等高新技术检测设备方面更是如此。常用的无损检测方法：涡流检测（ECT）、射线照相检验（RT）、超声检测（UT）、磁粉检测（MT）和液体渗透检测（PT）五种。其他无损检测方法：声发射检测（AE）、热像/红外（TIR）、泄漏试验（LT）、交流场测量技术（ACFMT）、漏磁检验（MFL）、远场测试检测方法（RFT）、超声波衍射时差法（TOFD）等。
热阻电性规格：
加热电流测量精度（低电流测量: 0.2，元器件失效分析， 1 和2 安培测量）
2A 系统: ±1mA 10A 系统: ±5mA 20A 系统: (±10mA)
加热电流测量精度（高电流测量: 2，元器件失效如何分析， 10 和20 安培测量）:
2A 系统: ±4mA 10A 系统: ±20mA 20A 系统: (±40mA)
加热电压测量精度: ±0.25% ，0~30V
热电偶测量精度(T 型): 典型 ±0.1°C
交流电压：220VAC，10A，元器件失效分析报价，50/60Hz
器件的测试的供电电压： 20V（标配），其他的是选配。
器件的测试的供电电流： 30A(标配)，选配（100A 200A，400A，800A，1000A及更高电流）
节温的感应电流：1mA， 5mA， 10mA， 20mA，50mA(标配)，100mA，500mA，1000mA，2500mA是选配。
数据采样频率1MHz
结温精度±0.1°C 分辨率：±0.007°C。
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