迁移率（霍尔）测试仪产品广泛应用于半导体、光伏、科研以及平板材料测试领域。借助公司先进计量分析测试技术，为晶圆、碳化硅、硅片、氮化镓、封装测试等生产和品质监控，提供一整套完整测试和解决方案。晶圆电阻率测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，
技术指标 | 样品尺寸：2"-8"或者16mm×16mm的方形样品； 迁移率测量范围：100-20000（cm2/v.sec)； 方块电阻测量范围：100-3000（ohm/sq)； 载流子面密度测量范围：1E11-1E14（cm-2）； 电磁铁磁场强度：1.0T 探头线圈直径：15mm |