迁移率(霍尔)测试仪产品广泛应用于半导体、光伏、科研以及平板材料测试领域。借助公司先进计量分析测试技术,为晶圆、碳化硅、硅片、氮化镓、封装测试等生产和品质监控,提供一整套完整测试和解决方案。晶圆电阻率测试仪,硅片电阻率测试仪,涡流法低电阻率分析仪,晶锭电阻率分析仪,迁移率(霍尔)测试仪,少子寿命测试仪,
技术指标 | 样品尺寸:2"-8"或者16mm×16mm的方形样品; 迁移率测量范围:100-20000(cm2/v.sec); 方块电阻测量范围:100-3000(ohm/sq); 载流子面密度测量范围:1E11-1E14(cm-2); 电磁铁磁场强度:1.0T 探头线圈直径:15mm |