光学显微镜法：
偏光显微镜祛。将矿物或岩石标本磨制成薄片，在偏光显微镜下鉴定矿物的光学性质，确定岩石的矿物成分，确定岩石类型及其成因特征，定出岩石名称的工作，又称岩石薄片鉴定法。这是研究矿物岩石*常用的方法。可以获得矿物的颜色、形状、大小、折光率、消光角、重折率、干涉色、轴性、光轴角等光学常数，还能获得矿物的形成顺序、次生变化、体积百分含量以及岩石的结构构造、胶结类型等特征，进而对岩石进行正确的定名。为了获取更的光轴角、消光角数据、折光率数据，可再选用费氏台法、油浸法或干涉显微镜法等。
岩矿鉴定
反光显微镜法。主要用于金属矿物及矿石的研究，还广泛应用于非金属材料的研究。
热分析检测方法
该方法是根据在热处理过程中发生的热效应(如吸热、放热)来鉴定矿物或混合物的组成。常用的方法有差热分析和综合热分析。
(1)差热分析。任何矿物在加热过程中可获得一条时间对温度的曲线(称差热曲线)。由于不同矿物发生热效应的温度不同，曲线上变化点(峰或谷)的位置就不同，从而鉴定矿物及混合物的矿物组成。
(2)综合热分析。矿物在加热过程中除了产生吸热、放热效应外，往往还有重量和体积的变化。综合热分析将其差热曲线、重量变化曲线和体积变化曲线绘制在一张图上以鉴定未知矿物
电子显微镜分析
常用的仪器有透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)、电子探针(EPMA)等。前两种电镜以成像放大倍数大、分辨率高为主要特点，尤其扫描电镜以聚焦景深大、形貌立体感强为特色，它们是研究矿物或物质形貌、超显微结构、变形结构(如错位)的理想工具。而电子探针是用以定量分析微区化学成分的仪器。
X射线物相分析
对结晶物质的物相进行分析的一种有效方法，主要应用于：
①未知矿物的鉴定，特别是对微粒矿物、黏土矿物。
②多晶混合物中各物相的定量估算。
③矿物晶胞参数等结构的测定。
④类质同像矿物成分测定。
⑤矿物有序一无序状态的测定
谱学分析
谱学方法有数十种，在矿物学.上常用的有红外光谱、拉曼光谱、穆斯堡尔谱、核磁共振被谱等。以红外光谱为例，每种矿物都有自己的特征光谱，红外光谱就是利用矿物的特征谱线监定未知矿物及混合物中主要组成矿物的定量确定，研究矿物类质同像置换、有序一无序现象、水的存在形式、标型特征等
