尺寸测量
支持所有三维几何形状拟合及测量
支持对几何体内、几何体间进行尺寸测量
是在组件上*难接触到的表面上也能够进行
支持无损状态下获得未知样品的内部结构数据,用于逆向工程制造
缺陷查找
可实现从小块样品到大尺寸样品三维微观结构的扫描,在不破坏样品状态的情况下三维数字化直观描述样品的内部结构
检测类型:孔隙、裂缝、夹杂物
孔隙/夹杂分析
找出零件内部的孔、洞和夹杂物,并详细了解这些缺陷
计算每一个缺陷的各项参数(缺陷位置、缺陷紧密度、缺陷大小与几何形状、与*近的缺陷之间的间隙以及每个缺陷与参照表面之间的距离)
计算孔隙度的整体百分比,并将它在缺陷体积直方图中可视化
散射线伪影校正
兼顾扇束CT低伪影高精度与锥束CT扫描的高速度,扫描速度比扇束CT扫描速度高上百倍
有效改进扫描质量,适用于钢,铝等高散射材料以及复合材料,多材料样品