粒度分布通常是指某一粒径或某一粒径范围的颗粒在整个粉体中占多大的比例。它可用简单的表格、绘图和函数形式表示颗粒群粒径的分布状态。颗粒的粒度、粒度分布及形状能显著影响粉末及其产品的性质和用途。
粒度测定方法有多种，常用的有筛析法、沉降法、激光法、小孔通过法、吸附法等。筛析法是zui简单的也是用得zui早和应用zui广泛的粒度测定方法，利用筛分方法不仅可以测定粒度分布，而且通过绘制累积粒度特性曲线，还可得到累积产率50％时的平均粒度。
粒度测试的目的
微小颗粒态物质在日常生活和工业生产中有着很广泛的应用
尺寸的大小和分布情况直接关系到工业流程
产品质量以及能源消耗和生产过程的安全性。因此，准确方便地测量微小颗粒的直径、粒径，并得到粒径分布函数成为一个非常有意义的课题。
常用测试方法的种类
1、筛析法(sieving method)：让粉体试样通过一系列不同筛孔的标准筛，将其分离成若干个粒级，分别称重，求得以质量百分数表示的粒度分布。适用于0.02～100mm之间的粒度分布。电沉积筛(微孔筛)可达0.005mm。
由于制造工艺的原因，出厂筛子筛孔尺寸难保一致；使用过程中变形导致筛孔尺寸不准——校准。
优点：成本低，使用容易。
缺点：对小于400目38u的干粉很难测量。测量时间越长，得到的结果就越小。不能测量射流或乳浊液在测量针状样品时这会得到一些奇怪的结果。难以给出详细的粒度分布，操作复杂，结果受人为因素影响较大，所谓某某粉体多少目，是指用该目数的筛筛分后的筛余量小于某给定值。如果不指明筛余量“目”的含义是模糊的，给沟通带来不便。
2、显微镜法(microscopicmethod)：显微镜法测量的样品量极少，取样和制样时，要保证样品有充分的代表性和良好的分散性。
样品制备后即可用显微镜一个一个测定颗粒，求出统计平均径；
测定的颗粒数一般需几百个以上才有意义。
光学显微镜测量时，常在目镜中插入一块刻有标尺或几何图形的玻片，由人眼通过目镜直接观测；或将显微镜的颗粒图像/照片投影到一个备有标尺或几何图形的屏幕上，通过对比确定粒度。
3、库尔特计数法（coulter countermethod）：将被测粉体分散在电解质溶液中，在该导电液中置一开小孔的隔板，并将两个电极分别于小孔两侧插入导电液中。在压差作用下，颗粒随导电液逐个通过小孔。每个颗粒通过小孔时产生的电阻变化表现为与颗粒体积或直径成正比的电压脉冲。
4、沉降法（sedimentation method）
重力沉降法特点：适合测量不大(<50m )不小(>1m)的粒子。
离心沉降法特点：与重力沉降法相比，离心沉降时间减小。可测小粒径粒子，粒子尺寸下限一般为0.1m
两种沉降法都只能测相同密度的粒子；重复性好。
