工业硅粉化学成分分析 杂质元素含量检测

哪里能检测工业硅？工业硅GBT14849.5-2014测试

GB/T 14849《工业硅化学分析方法》分为9个部分:

第1部分:铁含量的测定 1,10-二氮杂菲分光光度法; .

第2部分:铝含量的测定 铬天青-S分光光度法:

第3部分:钙含量的测定 火焰原子吸收光谱法偶氮氯膦I分光光度法;

第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱;

第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法;

第6部分:碳含量的测定 红外吸收法;

第7部分:磷含量的测定 钼蓝分光光度法;

第8部分:铜含量的测定 PADAP分光光度法;

-第9部分:钛含量的测定二安替比林甲烷分光光度法。

本部分为GB/T14849的第5部分。

本部分按照GB/T1.1--2009给出的规则起草。

本部分代替GB/T 14849.5- 2010《工业硅化学分析方法第5 部分:元素含量的测定X 射线荧

光光谱法》。

本部分与GB/T 14849.5- 2010 相比,主要有如下变动:

-增加了规范性引用文件;

增加了锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴的检测;

-样品应破碎通过0.074mm筛,改为应能通过0.149mm标准筛;

将粘结剂硼酸改为淀粉或硼酸;

-一将试料中压片压力 20 kN,保压时间20 s,改为30t压力下保压30 s;

补充了重复性限及再现性限,增加了试验报告。