超声波细微测头UMAP
实现常规影像测量仪或CMM都难以测量的极小孔直径、截面或轮廓的接触式测量。在一台机器上可进行高精度、复杂、非接触式以及接触式测量。1uN的zui小测量力使工件表面不易划伤,可测量易变形工件。
配备影像测头和扫描测头(MPP-NANO,SP25M)的理想复合机型。
配备观察摄像头,可一边确认工件是否有污渍、伤痕,一边轻松地靠近。
自主研发的“MPP-NANO”测头可搭载zui小直径125um的测针,实现细微领域的3D扫描系列相同的影像测头,使其在影像测量方测量。还支持在扫描测量领域拥有良好业绩的SP25M测头。
采用与影像测量仪的changxiao机型QUICKVISION面发挥出出色性能。