HALT &HASS是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为世界范围内电子业界的标准产品验证方法。
它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT& HASS的试验方式已成为很多新电子产品上市前所必需通过的验证。
一、HALT（HighAccelerated Life Testing）高加速寿命试验
HALT是一种通过让被测物承受不同的应力，进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。HALT的主要目的是通过增加被测物的极限值，进而增加其坚固性及可靠性。
HALT利用阶梯应力的方式加诸于产品，能够在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。其加诸于产品的应力有振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。
利用该测试可迅速找出产品设计及制造的缺陷、改善设计缺陷、增加产品可靠性并缩短其上市周期，同时还可建立设计能力、产品可靠性的基础数据及日后研发的重要依据。
HALT主要应用于产品的研发阶段，能够及早发现产品可靠性的薄弱环节。其所施加的应力要远远高于产品在正常运输﹑贮藏﹑使用时的应力。
简单地说，HALT是以连续的测试、分析、验证及整改构成了整个程序。HALT共分为4个主要试程，即：温度应力、高速温度传导、 随机振动、温度及振动合并应力。
二、HASS（High Accelerated Stress Screen）高加速应力筛选实验
HASS是产品通过HALT试验得出操作或破坏极限值后在生产线上做高加速应力筛选，一般要求100％的产品参加筛选。
其目的是为了使得生产的产品不存在任何隐含的缺陷或者至少在产品还没有出厂前找到并解决这些缺陷，HASS就是通过加速应力方式以期在短时间内找到有缺陷的产品,缩短纠正措施的周期，并找到具有同样问题的产品。
HASS应用于产品的生产阶段，以确保所有在HALT中找到的改进措施能够得已实施。HASS还能够确保不会由于生产工艺和元器件的改动而引入新的缺陷。
HASS试验包括三个主要试程： HASS Development （HASS试验计划阶段）Proof-of-Screen（计划验证阶段） Production HASS（HASS执行阶段）。
HALT HASS 测试费用大家应该都很关心。费用与产品的体积（涉及到使用的设备腔体），测试时长有关系。
一般以1立方、3立方为界限。小于1立方的，价格在900~1000元/时左右。
中认英泰配备了美国 TYPHOON3.0 和TYPHOON 8.0设备，体积分别是1立方米，和3立方米；箱体，能够达到的温度范围，是-100摄氏度到正200摄氏度（-100℃至200℃），振动峰值可以达到70G，可以满足大部分的Halt Hass测试。
