大塚电子有限公司 ZETA电位测试 ELSZ
更新:2020-07-10 20:05 编号:9087179 浏览:96次- 发布企业
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详细介绍
第二维里系数定义
表示溶媒中分子间的斥力和引力的相互作用,溶媒分子相对应的亲和性或结晶化的标准。
A2是正时,则是亲和性较高的高质溶媒,分子间的斥力强,更稳定。
A2是负时,则是亲和性较低的低质溶媒,分子间的引力强,易凝集。
A2=0时,溶媒被称为西他溶媒、或温度为西他温度,ELSZ分子量测试,斥力和引力达到平衡状态,易结晶。
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
粒径测量原理:动态光散射法(光子相关法)
溶液中的粒子会呈现出依赖于粒径的布朗运动。当光照射到此粒子上而得到的散射光会出现浮动,小粒子浮动速度快,大粒子浮动速度慢。
通过光子相关法解析这种浮动,从而求出粒径或粒度分布。
分子量测量原理:静的光散射法(光子相关法)
静的光散射法作为简便的测量分子量的手法而被人们熟知。
测量原理指的是用光照射溶液中分子,根据所得的散射光的求出分子量。即,利用了大分子所得散射光强,小分子所得散射光弱的现象进行测量。
实际上,浓度不同,所得的散射光強度也不同。要实测数点的不同浓度的溶液散射強度,ELSZ-ZETA电位测试,并根据以下公式,横轴设为浓度,ELSZ,纵轴设为散射強度的倒数,
Kc/R(θ)为plot。这被称作Debye plot。
浓度为零,外插切片(c=0)的倒数,并求出分子量Mw,根据初期斜面求出第二维里系数A2。
分子量为大分子时,散射強度出现角度依存性,通过测量不同的散射角度(θ)的散射强度,可知出分子量的测量精度提高,及分子大范围的指标的惯性半径。
角度固定测量时,输入推算的惯性半径,并对角度依存测量进行相应的补正,便可提高分子量的测量精度。
大塚电子有限公司(图)-ZETA电位测试-ELSZ由大塚电子(苏州)有限公司提供。行路致远,砥砺前行。大塚电子(苏州)有限公司(www.otsukael.com.cn)致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴,与您一起飞跃,共同成功!
成立日期 | 2007年04月26日 | ||
法定代表人 | AKADA TOMOHIRO(铜田知広) | ||
注册资本 | 10万元美元 | ||
主营产品 | 光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备 | ||
经营范围 | 分光仪;分光光度计; | ||
公司简介 | 大塚电子(OtsukaElectronics)是设立于1970年的光学测量仪器厂家。苏州公司主营光谱仪、液晶CellGap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备 ... |
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