苏州XU-100镀层测厚仪X射线荧光光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速测量。 检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm，测量面积0.2mm²，凹槽深度测量范围可达0-30mm。
XU-100镀层测厚仪X射线荧光光谱测厚仪应用行业：
电镀层分析
紧固件行业
五金行业
汽车零部件
配饰厚度分析
电子元器件
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样品种类：
紧固件 ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe
五金制品 Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe
电子元器件 Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu
汽车零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS
配饰首饰 Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu
散热片NiP/Al
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光谱测厚仪X射线光谱仪XU-100设备特点：
1.下照式设计
可以快速方便地定位对焦样品。
2.高精密微型移动滑轨
快速定位样品。
3. 微焦X射线装置
检测面积可达0.2mm²的样品，可进行各类电镀层膜厚检测。
率正比接收器测试0.2mm²的样品，几秒钟也能达到稳定性。
4. 变焦装置算法
可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm。
5.EFP算法
多层多元素，包括有同种元素在不同涂镀层的检测，都可以快、准、稳的做出数据分析
