RE（辐射发射）干扰测试，作为电磁兼容性（EMC）评估的核心组成部分，旨在量化电子设备在正常操作状态下，通过空间传播的电磁辐射水平，以确保其符合既定标准，从而避免对周边电子设备造成潜在干扰。
RE辐射干扰测试过程严格而专业。测试期间，被测设备（EUT）将被置于精心设计的无反射屏蔽室（电波暗室或半电波暗室）内，以模拟一个低干扰的电磁环境。测试系统由高精度信号源、功率放大器、天线、频谱分析仪及专用测试软件构成，确保测试结果的准确性和可靠性。
测试前，需根据被测设备的特性和相关标准，设定测试频率范围、测试距离、天线极化方式等关键参数。随后，被测设备在标准工作状态下运行，通过天线在预设的距离和角度捕获其辐射的电磁能量，并由频谱分析仪进行测量和记录。
RE辐射干扰测试的核心在于评估被测设备在频谱范围内的辐射发射水平，确保其不超过相关标准设定的阈值。这些阈值通常根据设备类型、应用场景和预期用途等因素设定，旨在保护同一环境中其他电子设备的正常工作。例如，在通信频段内，过高的辐射水平可能干扰其他无线电设备的信号接收；在医疗或航空等关键领域，过高的电磁辐射还可能对人身安全或系统稳定性造成严重影响。
测试完成后，将根据测量结果对被测设备的电磁兼容性进行综合评价。若存在超标情况，将深入分析原因，可能涉及设备设计、电路布局、滤波和接地策略等多个方面，并根据分析结果进行相应的改进和优化，直至测试达标。RE辐射干扰测试在电子设备电磁兼容性评估中占据核心地位，其目的在于确保设备在电磁环境中的稳定运行，进而提升产品质量，保护用户权益，并维护公共电磁环境的安全稳定。测试涵盖了详尽的测试环境设置、 的测试方法以及严格的评估标准，为全面理解RE辐射干扰测试提供了专 业且清晰的视角。
