xrd测试主要测什么：
xrd用于样品的晶体物相分析。包括晶体成分的定性定量分析、晶体粒度测定、膜层结构分析、晶体点阵常数分析、结晶度分析、材料应力分析等。在材料科学、物理化学、矿物、地质、冶金等领域中应用广泛。
XRD是目前研究晶体结构有力的方法。XRD特别适用于晶态物质的物相分析，晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、相对强度次序、角度位置及衍射峰的形状上就显现出差异。通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析，就可以完成样品物相组成和结构的「定性」鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，便可以完成样品物相组成的「定量」分析。
xrd图谱分析步骤：
XRD图谱中峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。「峰窄」说明晶粒大，可以用Scherrer公式算晶粒尺寸；「峰高」如果是相对背地强度高，则表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。
在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的「晶态」物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的「尖峰」如果这些「峰」明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm，可以称之为「微晶」。