方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形测量值都是一样的，不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是一样，这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关，表征膜层致密性，表征对热红外光谱的透过能力，方块电阻测量数值愈大，则隔离热红外性能越差，方块电阻测量数值愈小则隔离热红外性能越好，对于建筑行业来讲低辐射方块电阻如何测试呢，可不可以用万用表电阻档直接测试图一所示的材料呢？不可以的，因万用表的表笔只能测试点到点之间的电阻，而这个点到点之间的电阻不表示任何意义。如要测试方阻，我们需要在A边和B边各压上一个电阻比导电膜电阻小得多的圆铜棒，这个圆铜棒光洁度要高，以便和导电膜接触良好。这样我们就可以通过用万用表测试两铜棒之间的电阻来测出导电薄膜材料的方阻 玻璃的热红外性能测量的快速测量就必须选用方块电阻测量仪，测量值愈小则建筑材料就愈节能，在建筑材料行业具有很大的作用。
无损方块非接触式电阻率测试
2024-12-11 09:00 114.220.175.145 1次
- 发布企业
- 九域半导体科技（苏州）有限公司商铺
- 认证
- 资质核验：已通过营业执照认证入驻顺企：第4年主体名称：九域半导体科技（苏州）有限公司组织机构代码：91320594MA26X2E51L
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- 关键词
- 涡流法,电阻率,硅片,方阻,非接触式
- 所在地
- 苏州市相城区太平街道聚金路28号8号楼2楼205室（注册地址）
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| 成立日期 | 2021年08月24日 | ||
| 法定代表人 | 张月兰 | ||
| 注册资本 | 1000万人民币 | ||
| 主营产品 | 晶圆电阻率测试仪、硅片电阻率测试仪、涡流法低电阻率分析仪、晶锭电阻率分析仪、迁移率（霍尔）测试仪、少子寿命测试仪、PN型号、表面光电压仪JPV\SPV、汞CV、ECV。为碳化硅、硅片、氮化镓、衬底和外延厂商提供测试和解决方案。 | ||
| 经营范围 | 许可项目：第二类医疗器械生产（依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动，具体经营项目以审批结果为准）一般项目：技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广；软件开发；人工智能基础软件开发；人工智能应用软件开发；新材料技术研发；机械设备研发；计算机系统服务；信息系统集成服务；工业工程设计服务；工程和技术研究和试验发展；科技推广和应用服务；半导体器件专用设备制造；半导体器件专用设备销售；集成电路芯片及产品制造；集成电路芯片及产品销售；光伏设备及元器件制造；光伏设备及元器件销售；工业自动控制系统装置制造；工业自动控制系统装置销售；电子专用材料研发；电子专用材料制造；电子专用材料销售；光电子器件制造；光电子器件销售；实验分析仪器制造；实验分析仪器销售；电子测量仪器制造；电子测量仪器销售；电子元器件批发；电子专用设备销售；第一类医疗器械生产；第一类医疗器械销售；第二类医疗器械销售；机械电气设备制造；机械电气设备销售；电子产品销售；五金产品批发；技术进出口；进出口代理；货物进出口（除依法须经批准的项目外，凭营业执照依法自主开展经营活动） | ||
| 公司简介 | 公司成立于2021年，是一家注册在苏州、具备世界领先技术的非接触式半导体检测分析设备制造商。公司集研发、设计、制造、销售于一体，主要攻克国外垄断技术，替代进口产品，使半导体材料测试设备国产化。主要产品：非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪，方阻测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法高低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，涡流法电阻率探头和PN探头测试仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，晶圆、硅片 ... | ||
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