电子元器件体积电阻检测 介电强度检测

电子元器件体积电阻检测

电子元器件的体积电阻检测是评估其绝缘性能的重要手段。体积电阻是指在试样两相对表面上放置的两电极间所加直流电压与流过这两个电极之间的稳态电流之商，不包括沿试样表面的电流，在两电极上可能形成的极化忽略不计。体积电阻率是在绝缘材料里面的直流电场强度和稳态电流密度之商，即单位体积内的体积电阻。 

在实际检测中，通常采用图1所示的测试夹具电极配置，将电压源Vs施加到上电极，指定流经测试样品的大电流为Im，随后体积电阻率Rv用公式Rv = Vs/Im计算。从测试样品流向保护电极的大电流和从上电极流向保护电极的表面电流都属于泄露电流；这些电流都会进入Vs的低侧，不会对用于计算Rv的电流表电流 (Im) 的大小造成影响。 

电子元器件介电强度检测

介电强度是指在不产生介电击穿能力的情况下，将样品放置在电极之间，通过一系列过程提高施加的电压，直到介电击穿，以此测量介电强度。结果以kV/mm为单位，但并不意味着与样品的厚度无关。只有在样品厚度相同的情况下获取各种材料的数据才能进行比较，不同厚度的穿透电量肯定是不一样的。 

在进行介电强度检测时，需要使用专门的测试仪器，如耐压测试仪等。测试前需要做好准备工作，包括检查仪器、选择合适的电极、准备样品等。在测试过程中，需要设置好测试参数，如测试时间、漏电流截断值、报警值、电压等，并按照规定的操作流程进行测试。测试结束后，需要记录测试结果，并进行数据分析和处理。