金属膜附着力，导电率检测 厚度均匀性检测

金属膜附着力、导电率及厚度均匀性检测方法及要点如下：

一、金属膜附着力检测

1. 百格法（划格法）

• 方法：用刀在金属膜表面划百格，用胶带贴在格子中心后平稳扯离，观察漆膜脱落现象，通过计算划格中格子状态判定附着力。

• 适用场景：适用于塑料或金属等材质表面涂装工艺后的附着力检验。

• 样品要求：样品尺寸需大于10cm×10cm，且至少提供2个样品。

2. 拉开法

• 方法：在指定速度下，对试样胶结面施加垂直、均匀的拉力，测定涂层间或涂层与底材间附着力破坏时所需的力（以N/cm²表示）。

• 适用场景：适用于较厚涂层（如腻子），单涂层和多涂层体系均适用，测定涂层间附着力时优先选用。

• 样品要求：样品尺寸需大于5cm×5cm。

3. 其他方法

• 弯曲测试：使用心轴弯曲带有涂层的零件至两条腿平行，检查剥落迹象。

• 凿刀测试：用锋利冷凿刀穿透金属膜，观察沉积物清除情况。

• 锉刀测试：锯掉部分电镀零件，在沉积物或基材界面处寻找分离迹象，用粗铣刀锉抬起锯边。

• 冲击试验：用锤子敲打涂层零件，观察剥落或起泡迹象。

• 剥离测试：将黄铜或钢带焊接到电镀金属零件上，尝试以90度角剥离，观察沉积物或基材界面是否故障。

• 热淬试验：加热镀层零件后浸入室温水中冷却，观察水泡或剥落迹象。

二、金属膜导电率检测

1. 四探针法

• 方法：利用四个电极配置的四探针，将待测金属膜样品连接在电路中，施加恒定电流，测量电压差，计算导电率。

• 优点：jingque性高，适用于薄膜样品导电率测量。

• 操作要点：实验中对每个样品进行三次测量，取平均值作为Zui终结果。

2. 其他方法

• 具体电阻法：通过测量金属导线的电阻值、长度和截面积等参数，计算导电率。需使用恒流源、万用表等仪器设备。

• 轮速法：将金属圆盘样品固定在转子上，使其以一定转速转动，用砂轮刮去表面一层金属，测量每次刮去金属后的电感和电阻，计算导电率。

• 热比柯法：利用热比柯效应，测量金属导体在电流作用下产生的温度差，通过测量电流和温度差计算导电率。

三、金属膜厚度均匀性检测

1. 光学法

• 方法：利用光的干涉、偏振等特性测量膜厚，如椭偏仪和光学轮廓仪。

• 适用场景：适用于介质薄膜、透明导电薄膜及平整表面薄膜的测量。

2. 接触测量法

• 方法：通过探针或原子力显微镜直接接触表面获取厚度信息，如台阶仪和原子力显微镜。

• 适用场景：台阶仪适用于介质薄膜和金属薄膜，原子力显微镜适合超薄介质层和纳米功能材料。

3. 电子显微镜法

• 方法：利用电子束扫描表面成像，适合常规金属和半导体等固体薄膜。

4. X射线反射法

• 方法：通过X射线反射测量多层膜结构，特别适用于多层膜的厚度检测。