电子元器件介质耐电压/高电压测试

电子元器件的介质耐电压测试，也称为高电压测试，是评估其在异常电压条件下绝缘性能的重要步骤。这一测试确保元器件能在预期的工作电压及可能遇到的过电压下安全运行。以下是该测试的详细说明：

测试目的

验证绝缘强度：确保元器件的绝缘材料能够承受高于正常工作电压的电应力而不发生击穿。

安全标准符合性：满足国际和行业安全标准，如IEC、UL、GB等，确保用户安全。

测试原理

施加电压：在被测元器件的绝缘部分施加一个高于其额定电压的电压，通常是交流或直流，持续一定时间。

泄漏电流监测：测量在高电压作用下通过绝缘体的电流，以评估其绝缘性能。

击穿判断：如果电流超过允许的泄漏电流阈值或出现电压突然下降，表明绝缘击穿，测试失败。

测试类型与标准

I类与II类电器：根据电器的绝缘类型，测试电压不同。例如，I类电器可能需要承受1250V，II类电器则需3000V，持续60秒，泄漏电流小于5mA。

汽车电气：如GB/T28046.4规定，对特定部件施加500V交流电压，持续60秒，检查电动汽车电池管理系统等的耐压能力。

电动汽车B级电压电路：在特定环境条件下，施加交流试验电压（如（2U+1000）V），测试其耐压性。

测试参数

电压选择：依据产品额定电压和绝缘类型，采用公式计算，如交流1000V加上两倍额定电压，直流则乘以1.4倍。

泄漏电流限制：一般设定为5至10mA，特殊应用如医疗设备可能要求更低。

测试时间：通常为1分钟，生产线可能缩短至1秒，但需相应提高试验电压。