影响膜厚测量仪的因素
基体金属电性质
基体金属的导电性对测量有影响，而基体金属的导电性与材料成分和热处理方法有关。使用与样品金属具有相同性质的标准膜校准仪器。
基体金属厚度
每个仪器具有贱金属的临界厚度。大于此厚度，测量不受基体金属厚度的影响。
曲率
试样的曲率对测量有影响。这种效应总是随着曲率半径的减小而增加。因此，测量弯曲试样的表面是不可靠的。
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根据测量原理，涂层厚度计通常有五种类型：
1、磁性厚度测量：适用于测量磁性材料上非磁性层的厚度。一般来说，磁性材料是沧州瓯钢、铁、银和镍。
2、涡流厚度测量：适用于测量导电金属上的非导电层的厚度。这种方法比磁厚度测量精度低。
3、超声波厚度测量：目前国内尚没有用这种方法测量涂层厚度。国外一些厂家也有这种仪器，MCPD，多层涂敷厚度测量的应用是上述两种方法无法测量的情况。但一般价格昂贵，测量精度不高。
4、电解厚度测量方法：此方法不同于上述三种，不属于NDT，需要破坏涂层。一般精度不高。
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