FE膜厚仪 FE 苏州大塚电子有限公司

更新:2019-12-28 13:38 编号:7580048 浏览:79次
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大塚电子(苏州)有限公司
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9132059479906758X8
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详细介绍

FE3000反射式膜厚量测仪原理为:利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品,再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。


1)高精度石英材质液体比色皿,FE3000厂家,光学透过率大于98%,全波段无荧光反应,用于液体样品测试(3个)。尺寸:12.5mm*12.5mm*140mm

     2)具有专用的液体容器定位装置,可实现入射光垂直入射到容器表面。



积分全球/半球,FE,在遭受到强大的冲击力后有可能会产生变形甚至损坏。对于这种情况,我司将不承担责任。积分半球的内侧涂有硫酸i钡或者是Spectralon,受到污染后如需要交换可与我司联系。货期大约为1.5个月左右。

关于冷却水的更换没有特定的时间要求,可目视,发现水有污垢时请更换冷却水。更换时请用自来水或是软水(不可使用纯水,如使用纯水,会和空气中的CO2结合形成酸性环境,FE-3000,从而导致冷却装置内部遭到腐蚀)。


电脑装有Windows XP Professional或Windows7作为操作系统,考虑到网络安全和病毒的防止,将安装诺顿网络安全特i警或诺顿反病毒软件。本程序从安装日开始计算,在连接网络的情况下可维持1年的Zuii新状态。之后如要更新,FE膜厚仪,请自行购买。 主要测试项目:量子效率测定,量子效率的激发波长依赖特性,发光光谱、反射光谱测定,透过、吸收光谱测量,PL激发光谱,颜色演算(色度、色温、演色性等)


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成立日期2007年04月26日
法定代表人AKADA TOMOHIRO(铜田知広)
注册资本10万元美元
主营产品光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备
经营范围分光仪;分光光度计;
公司简介大塚电子(OtsukaElectronics)是设立于1970年的光学测量仪器厂家。苏州公司主营光谱仪、液晶CellGap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备 ...
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