MCPD膜厚仪 MCPD 苏州大塚电子

更新:2019-12-28 13:38 编号:7580049 浏览:132次
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大塚电子(苏州)有限公司
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9132059479906758X8
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详细介绍


保证测厚仪质量的方法:

要保证设备的质量,大塚MCPD,不仅要保证设备的质量,要注意使用时的操作标准。专业用户必须保证操作的准确性。在操作过程中,MCPD透过率测试,要注意仪器的及时保养。


分光光谱仪种类量测波长范围MCPD-9800:高动态范围型360~1100nmMCPD-3700:紫外/可视/近红外光型220~1000 nmMCPD-7700:高感度型220~1100 nm

平面显示器模组量测平面显示器(FPD)模组、液晶显示器(LCD)模组、电浆显示器(PDP)模组、CRT显示器、OLED面板


大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!

膜厚测量仪校准方式


仪器校满度

1.根据待测涂层的厚度,MCPD膜厚仪,选择合适的标准膜片进行全刻度标定。

2.将标准膜片放置在铁基体上(或者没有涂层测量体)。

3.按测量探头在标准的隔膜,与测量值显示。如果测量值不同于标准膜片,则可以通过添加1或负1个键来校正测量值。当进行校正时,必须抬起探头。否则,按1键或减少1键。

4.为了保证校准的精度,可以通过重复测量同一标准膜片来验证。



大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!


根据测量原理,涂层厚度计通常有五种类型:

1、磁性厚度测量:适用于测量磁性材料上非磁性层的厚度。一般来说,MCPD,磁性材料是沧州瓯钢、铁、银和镍。

2、涡流厚度测量:适用于测量导电金属上的非导电层的厚度。这种方法比磁厚度测量精度低。

3、超声波厚度测量:目前国内尚没有用这种方法测量涂层厚度。国外一些厂家也有这种仪器,多层涂敷厚度测量的应用是上述两种方法无法测量的情况。但一般价格昂贵,测量精度不高。

4、电解厚度测量方法:此方法不同于上述三种,不属于NDT,需要破坏涂层。一般精度不高。



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成立日期2007年04月26日
法定代表人AKADA TOMOHIRO(铜田知広)
注册资本10万元美元
主营产品光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备
经营范围分光仪;分光光度计;
公司简介大塚电子(OtsukaElectronics)是设立于1970年的光学测量仪器厂家。苏州公司主营光谱仪、液晶CellGap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备 ...
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